Development of a dual beamlet monitor system for negative ion beam measurements

Haba, Y.; Nagaoka, K.; Tsumori, K.; Kisaki, M.; Nakano, H.; Ikeda, K.; Fujiwara, Y.; Kamio, S.; Yoshimura, S.; Osakabe, M.

期刊名称Review of Scientific Instruments
作者Haba, Y.; Nagaoka, K.; Tsumori, K.; Kisaki, M.; Nakano, H.; Ikeda, K.; Fujiwara, Y.; Kamio, S.; Yoshimura, S.; Osakabe, M.
卷第89卷
期第12期
印刷ISSN0034-6748
电子ISSN1089-7623
文件大小1491.82KB
发表时间2018-12
DOI10.1063/1.5056260

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