VUV-Sensitive Silicon Photomultipliers for Xenon Scintillation Light Detection in nEXO

• 期刊名称IEEE Transactions on Nuclear Science
• 作者Jamil, A.; Ziegler, T.; Hufschmidt, P.; Li, G.; Lupin-Jimenez, L.; Michel, T.; Ostrovskiy, I.; Retiere, F.; Schneider, J.; Wagenpfeil, M.; Alamre, A.; Albert, J. B.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Bourque, F.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G. F.; Cao, L.; Cen, W. R.; Chambers, C.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Cote, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S. J.; Daughhetee, J.; Delaquis, S.; Mesrobian-Kabakian, A. Der; DeVoe, R.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Gallina, G.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Harris, D.; Hasan, M.; Heffner, M.; HoBl, J.; Hoppe, E. W.; House, A.; Hughes, M.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jessiman, C.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krucken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leonard, D. S.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; Lv, P.; MacLellan, R.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J.-F.; Qiu, D.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schubert, A.; Sinclair, D.; Skarpaas, K.; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veenstra, B.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J.-L.; Wang, Q.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Xia, Q.; Yang, L.; Yen, Y.-R.; Zeldovich, O.; Zhang, X.; Zhao, J.; Zhou, Y.
• 卷第65卷
• 期第11期
• 印刷ISSN0018-9499
• 电子ISSN1558-1578
• 文件大小2482.31KB
• 发表时间2018-11
• DOI10.1109/TNS.2018.2875668
• 页码2823-2833