Alloys for Wide-Range Low-Temperature On-Chip Thermometry

Dann, J.R.A.; Verpoort, P.C.; Ferreira de Oliveira, J.; Rowley, S.E.; Datta, A.; Kar-Narayan, S.; Ford, C.J.B.; Conduit, G.J.; Narayan, V.

期刊名称Physical Review Applied
作者Dann, J.R.A.; Verpoort, P.C.; Ferreira de Oliveira, J.; Rowley, S.E.; Datta, A.; Kar-Narayan, S.; Ford, C.J.B.; Conduit, G.J.; Narayan, V.
卷第12卷
期第3期
电子ISSN2331-7019
文件大小655.33KB
发表时间2019-9-12
DOI10.1103/PhysRevApplied.12.034024

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