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Mechanical stability and optoelectronic behavior of BeXP2 (X=Si and Ge) Chalcopyrite

Gani, A.; Cheref, O.; Ghezali, M.; Rabah, M.; Reshak, A.H.; Djaballah, Y.; Righi, H.; Rached, D.; Belasri, A.

期刊名称Chinese Journal of Physics
作者Gani, A.; Cheref, O.; Ghezali, M.; Rabah, M.; Reshak, A.H.; Djaballah, Y.; Righi, H.; Rached, D.; Belasri, A.
印刷ISSN0577-9073
文件大小1825.02KB
发表时间2020-1
DOI10.1016/j.cjph.2020.01.007