Buffon’s kob (Kobus kob hob Erxleben) immobilisation in Waza National Park, Cameroon
- 期刊名称Mammalia
- 作者WANZIE, Chris
- 卷第50卷
- 期第2期
- 印刷ISSN0025-1461
- 电子ISSN1864-1547
- 文件大小967.92KB
- 发表时间1986
- DOI10.1515/mamm.1986.50.2.253
Metrological large range scanning probe microscopeDai, Gaoliang; Pohlenz, Frank; Danzebrink, Hans-Ulrich; Xu, Min; Hasche, Klaus; Wilkening, Guenter · Review of Scientific Instruments · 2004
Improving the performance of interferometers in metrological scanning probe microscopesDai, Gaoliang; Pohlenz, Frank; Danzebrink, Hans-Ulrich; Hasche, Klaus; Wilkening, Guenter · Measurement Science and Technology · 2004
Dimensionelle Metrologie mittels Rastersondenmikroskopie (Dimensional Metrology based on Scanning Probe Microscopy)Herrmann, K.; Koenders, Ludger; Danzebrink, H.-U.; Hasche, Klaus; Wilkening, Günter; Pohlenz, F.; Kuetgens, U.; Mirandé, W.; Yacoot, A. · tm Technisches Messen · 2002
Messtechnische Beiträge aus der PTB zur modernen Produktionstechnik (Metrological Contributions of PTB for Modern Production Technologies)Hasche, Klaus · tm - Technisches Messen · 2004
Über einige kalibrierte Rasterkraftmikroskope in der PTB (About Several Calibrated Scanning Force Microscopes in the PTB)Hasche, Klaus; Herrmann, K.; Mirandé, W.; Seemann, R.; Ahbe, Th.; Büchner, H. · tm Technisches Messen · 2000
SPIE Proceedings [SPIE Optoelectronics and High-Power Lasers & Applications - San Jose, CA (Saturday 24 January 1998)] Ultrafast Phenomena in Semiconductors II - <title>Dynamics of Bloch oscillations in semiconductor superlattices: direct determination of displacement</title>Sudzius, Markas; Lyssenko, Vadim G.; Loeser, Falk; Valusis, Gintaras; Hasche, Tom; Leo, Karl; Dignam, Marc M.; Koehler, Klaus; Tsen, Kong-Thon F.; Fetterman, Harold R. · 1998
SPIE Proceedings [SPIE Optical Science and Technology, SPIE's 48th Annual Meeting - San Diego, CA (Sunday 3 August 2003)] Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II - <title>Metrological characterization of nanometer film thickness standards for XRR and ellipsometry applications</title>Hasche, Klaus; Thomsen-Schmidt, Peter; Krumrey, Michael; Ade, George; Ulm, Gerhard; Stuempel, Juergen; Schaedlich, Stefan; Frank, Wilfried; Procop, Mathias; Beck, Uwe; Decker, Jennifer E.; Brown, Nicholas · 2003
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