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Characterization of deep traps in semi-insulators by current transients

Characterization of deep traps in semi-insulators by current transients

Maimon, S.; Schacham, S. E.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Maimon, S.; Schacham, S. E.
卷第64卷
期第1期
印刷ISSN0003-6951
文件大小577.39KB
发表时间1994
DOI10.1063/1.111958

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