Reliability assessment for development of microtechnologies

• 作者J. W. Evans; J. Y. Evans
• 卷第3卷
• 期第4期
• 印刷ISSN0946-7076
• 电子ISSN1432-1858
• 文件大小397.58KB
• 发表时间1997-08
• DOI10.1007/s005420050072
• 页码145-154