海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣
Active dopant characterization methodology for germaniumT. Clarysse; P. Eyben; T. Janssens; I. Hoflijk; D. Vanhaeren; A. Satta; M. Meuris; W. Vandervorst; J. Bogdanowicz; G. Raskin · 2006
Accurate electrical activation characterization of CMOS ultra-shallow profilesT. Clarysse; F. Dortu; D. Vanhaeren; I. Hoflijk; L. Geenen; T. Janssens; R. Loo; W. Vandervorst; B.J. Pawlak; V. Ouzeaud; C. Defranoux; V.N. Faifer; M.I. Current · 2004