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Reliability issues and modeling of Flash and post-Flash memory (Invited Paper)

Reliability issues and modeling of Flash and post-Flash memory (Invited Paper)

Daniele Ielmini
  • 作者Daniele Ielmini
  • 卷第86卷
  • 印刷ISSN0167-9317
  • 文件大小678.31KB
  • 发表时间2009
  • DOI10.1016/j.mee.2009.03.054
  • 页码1870-1875
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