Bias dependence and electrical breakdown of small diameter single-walled carbon nanotubes
Seidel, R. V.; Graham, A. P.; Rajasekharan, B.; Unger, E.; Liebau, M.; Duesberg, G. S.; Kreupl, F.; Hoenlein, W.
- 期刊名称Journal of Applied Physics
- 作者Seidel, R. V.; Graham, A. P.; Rajasekharan, B.; Unger, E.; Liebau, M.; Duesberg, G. S.; Kreupl, F.; Hoenlein, W.
- 卷第96卷
- 期第11期
- 印刷ISSN0021-8979
- 文件大小628.16KB
- 发表时间2004
- DOI10.1063/1.1807523